A. 接觸電阻的組成部分
綜上所述，真正接觸電阻應由以下幾部分組成
實際測量電連接器接觸件的接觸電阻時，都是在接點引出端進行的，故實際測得的接觸電阻還包含接觸表面以外接觸件和引出導線本身的導體電阻。導體電阻主要取決於金屬材料本身的導電性能，它與周圍環境溫度的關系可用溫度系數來表徵。
為便於區分，將集中電阻加上膜層電阻稱為真實接觸電阻。而將實際測得包含有導體電阻的稱為總接觸電阻。
在實際測量接觸電阻時，常使用按開爾文電橋四端子法原理設計的接觸電阻測試儀（毫歐計），其專用夾具夾在被測接觸件端接部位兩端，故實際測量的總接觸電阻R由以下三部分組成，可由下式表示：
R=
RC
+
Rf
+
Rp,式中：RC—集中電阻；Rf—膜層電阻；Rp—導體電阻。
接觸電阻檢驗目的是確定電流流經接觸件的接觸表面的電觸點時產生的電阻。如果有大電流通過高阻觸點時，就可能產生過分的能量消耗，並使觸點產生危險的過熱現象。在很多應用中要求接觸電阻低且穩定，以使觸點上的電壓降不致影響電路狀況的精度。
B. 用作電接觸的貴金屬材料有哪些
傳遞電訊號、電能及接通或切斷電路等使用的貴金屬材料叫做貴金屬電接觸材料。
銀基電接觸材料銀合金是最重要、用量最大和最廉價的貴金屬電接觸材料。銀具有極好的導電性、導熱性、抗氧化能力和抗有機蒸氣作用的能力，並且加工性能極好。缺點是強度和硬度低，不耐磨，易硫化。
金基電接觸材料金具有極好的化學穩定性，接觸電阻低而穩定，導電性和導熱性均好。金的缺點是彈性差，屈服點低，易起弧焊接及在電流作用下形成尖刺等。
鉑基電接觸材料鉑基電接觸材料具有耐腐蝕、耐磨損、電接觸可靠、壽命長等優點，適於做條件苛刻的弱電接點；其缺點是價格昂貴，在有機氣氛中會產生「褐粉」。
鈀基電接觸材料鈀的密度小、價格便宜、化學穩定性稍次於鉑，有良好的抗硫化性能、抗腐蝕性和耐磨性，常可作為鉑的代用品。
C. 為什麼電線的接頭處會有接觸電阻
.
導體的接觸電阻形成的主要原因是：
1.
導體的表面即使再光潔，在顯微條件下看也是高低不平的，這就使接觸時真正的接觸只是一些「點」，面積遠小於實際面積，大約在實際接觸面的幾十分之一到幾千分之一之間；
2.
任何金屬表面都會有氧化層，而且形成速度很快，使得導體接觸部分能夠完全達到金屬接觸的部分還要少許多。（接觸上的部分有許多不能完全導通，存在較大電阻）；
3.
電流要「繞道」流到接觸的「點」上，這中間也要克服電阻。
目前克服接觸電阻的主要措施：
1.
增加接觸時對接觸位置的壓力；
2.
對繼電器觸點來說，可以增加接觸瞬間的沖擊力；
3.
對插頭的接觸來說，可以利用材料之間的摩擦，「銼」出一些填充空隙的東東。
D. 電器觸點材料是什麼金屬
純金屬材料等。
觸頭材料（contact material）是用於開關、繼電器、電氣連接及電氣接插元件的電接觸材料，又稱電觸頭材料，一般分強電用觸頭材料和弱電用觸頭材料兩種。
觸頭是開關電器中最薄弱的環節和容易出故障的部分：一旦觸頭系統不能正常工作，如電力系統發生短路寸，高壓斷路器觸頭拒絕斷開，將引起極為嚴重的後果。
(4)gbt150782008貴金屬電觸點材料接觸電阻的測量方法擴展閱讀：
物理性質
1、一般物理性質：觸頭材料應具有合適的硬度，較小的硬度在一定接觸壓力下可增大接觸面積，減小接觸電阻、降低靜態接觸時的觸頭發熱和靜熔焊傾向，並且可降低閉合過程中的動觸頭彈跳。較高的硬度可降低熔焊面積和提高抗機械磨損能力。
觸頭材料應具有合適的彈性模數。較高的彈性模數則容易達到塑性變形的極限值，因此表面膜容易破壞，有利於降低表面膜電阻，較低的彈性變形則可增大彈性變形的接觸面積。
2、電性能：觸頭材料應具有較高的電導率以降低接觸電阻，低的二次發射和光發射以降低電弧電流和燃弧時間。
3、熱物理性質：高的熱傳導性，以便電弧或焦耳熱源產生的熱量盡快輸至觸頭底座。高的比熱容、高的熔化、氣化和分解潛熱。高的燃點和沸點以降低燃弧的趨勢。低的蒸氣壓以限制電弧中的金屬蒸氣密度。
E. 接觸電阻有哪些電阻組成
真正接觸電阻應由以下幾部分組成 實際測量電連接器接觸件的接觸電阻時，都是在接點引出端進行的，故實際測得的接觸電阻還包含接觸表面以外接觸件和引出導線本身的導體電阻。導體電阻主要取決於金屬材料本身的導電性能，它與周圍環境溫度的關系可用溫度系數來表徵。
為便於區分，將集中電阻加上膜層電阻稱為真實接觸電阻。而將實際測得包含有導體電阻的稱為總接觸電阻。
在實際測量接觸電阻時，常使用按開爾文電橋四端子法原理設計的接觸電阻測試儀（毫歐計），其專用夾具夾在被測接觸件端接部位兩端，故實際測量的總接觸電阻R由以下三部分組成，可由下式表示：
R= RC + Rf + Rp,式中：RC—集中電阻；Rf—膜層電阻；Rp—導體電阻。
接觸電阻檢驗目的是確定電流流經接觸件的接觸表面的電觸點時產生的電阻。如果有大電流通過高阻觸點時，就可能產生過分的能量消耗，並使觸點產生危險的過熱現象。在很多應用中要求接觸電阻低且穩定，以使觸點上的電壓降不致影響電路狀況的精度
F. 材料的體積電阻和表面電阻怎麼測試方法
材料的體積電阻和表面電阻怎麼測試方法
2、體積電阻率：在絕緣材料裡面的直流電場強度與穩態電流密度之商,即單位體積內的體積電阻.
3、表面電阻：在試樣的某一表面上兩電極間所加電壓與經過一定時間後流過兩電極間的電流之商；訪伸展流主要為流過試樣表層的電流,也包括一部分流過試樣體積的電流成分.在兩電極間可能形成的極化忽略不計.
4、表面電阻率：在絕緣材料的表面層的直流電場強度與線電流密度之商,即單位面積內的表面電阻.
材料說明A、通常,絕緣材料用於電氣系統的各部件相互絕緣和對地絕緣,固體絕緣材料還起機械支撐作用.一般希望材料有盡可能高的絕緣電阻,並具有合適的機械、化學和耐熱性能.
B、體積電阻班組可作為選擇絕緣材料的一個參數,電阻率隨溫度和濕度的京戲化而顯著變化.體積電阻率的測量常常用來檢查絕緣材料是否均勻,或都用來檢測那些能影響材料質量而又不能作其他方法檢測到的導電雜質.
C、當直流電壓加到與試樣接觸的兩電極間時,通過試樣的電流會指數式地衰減到一個穩定值.電流隨時間的減小可能是由於電介質極化和可動離子位移到電極所致.對於體積電阻小於10的10Ω.m
的材料,其穩定狀態通常在1min內達到.因此,要經過這個電化時間後測定電阻.對於電阻率較高的材料,電流減小的過程可能會持續幾分鍾、幾小時、幾天,因此需要用較長的電化時間.如果需要的話,可用體積電阻率與關系來描述材料的特性 .
G. 四探針法消除接觸電阻的原理
KDY—1型四探針電阻率/方阻測試儀
使 用 說 明 書
廣州市昆德科技有限公司
1、概述
KDY-1型四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、矽片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電薄膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
本儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恆流源，使測量電流高度穩定。本機配有恆流源開關，在測量某些薄層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，更好地保護箔膜。儀器配置了本公司的專利產品：「小游移四探針頭」，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和准確度。本機如加配HQ-710E數據處理器，測量矽片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正，並計算、列印出矽片電阻率、徑向電阻率的最大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均勻度，給測量帶來很大方便。
2、測試儀結構及工作原理
測試儀主機由主機板、電源板、前面板、後背板、機箱組成。電壓表、電流表、電流調節電位器、恆流源開關及各種選擇開關均裝在前面板上（見圖2）。後背板上只裝有電源插座、電源開關、四探針頭連接插座、數據處理器連接插座及保險管（見圖3）。機箱底座上安裝了主機板及電源板，相互間均通過接插件聯接。儀器的工作原理如圖1所示：
測試儀的基本原理仍然是恆流源給探針頭（1、4探針）提供穩定的測量電流I（由DVM1監測），探針頭（2、3）探針測取電位差V（由DVM2測量），由下式即可計算出材料的電阻率：
厚度小於4倍探針間距的樣片均可按下式計算
式中：V——DVM2的讀數，mV。
I——DVM1的讀數，mA。
W——被測樣片的厚度值以cm為單位。
F（W/S）——厚度修正系數，數值可查附錄二。
F（S/D）——直徑修正系數，數值可查附錄三。
Fsp——探針間距修正系數。
Ft——溫度修正系數，數值可查附錄一。
由於本機中已有小數點處理環節，因此使用時無需再考慮電流、電壓的單位問題。如果用戶配置了HQ-710E數據處理器只要置入厚度W、FSP、測量電流I等有關參數，一切計算、記錄均由它代勞了。如果沒有數據處理器（HQ-710E），用戶同樣可以依據上式用普通計算器算出准確的樣片電阻率。
對厚度大於4倍探針間距的樣片或晶錠，電阻率可按下式計算：
ρ=2πSV/I （2）
這是大家熟悉的樣品厚度和任一探針離樣品邊界的距離均大於4倍探針間距（近似半無穹大的邊界條件），無需進行厚度、直接修正的經典公式。此時如用間距S=1mm的探頭，電流I選擇0.628；用S=1.59mm的探頭，電流I選擇0.999，即可從本儀器的電壓表（DVM2）上直接讀出電阻率。
用KDY-1測量導電薄膜、硅的異型外延層、擴散層、導電薄膜的方塊電阻時，計身算公式為：
R = V/I F(D/S) F(W/S)FSP
由於導電層非常薄故F(W/S)=1，所以只要選取電流 I=F(D/S) FSP, ，F(D/S)=4.532
測量時電流調節到04532，ρ/R選擇在R燈亮
從KDY-1右邊的電壓表(DVM2)上即可直接讀出擴散薄層的方塊電阻R 。
備註：在測量方塊電阻時ρ/R選擇要在R，僅在電流0.01mA檔時電壓表最後一位數溢出（其它檔位可以正常讀數），故讀數時需要注意，如電流在0.01檔時電壓表讀數為00123，實際讀數應該是001230.。
3、使用方法
（1）主機面板、背板介紹
儀器除電源開關在背板外其它控制部分均安裝在面板上，面板的左邊集中了所有與測量電流有關的顯示和控制部份，電流表（DMV1）顯示各檔電流值，電流選擇值（隨運按鈕）供電流選檔用，～220V電源接通後儀器自動選擇在常用的1.0mA檔，此時1.0上方的紅色指示燈亮，隨著選擇開關的按動，指示燈在不同的檔位亮起，直選到檔位合適為止。打開恆流源，上方指示燈亮，電流表顯示電流值，調節粗調旋鈕使前三位數達到目標值，再調細調旋鈕使後兩位數達到目標值。這樣就完成了電流調節工作，此時我們可以把注意力集中到右邊，面板的右邊集中了所有電壓測量有關的控制部件，電壓表（DMV2）顯示各檔（ρ/R手動/自動）的正向、反向電壓測量值。ρ/R鍵必須選對，否則測量值會相差10倍；同樣手/自動檔也必須選對，否則儀器拒絕工作。
後背板上主要安裝的是電纜插座，圖上標得很清楚，安裝時請注意插頭與插座的對位標志。因為在背後容易漏插，松動時不易被發現，所以安裝必須插全、插牢。
（2）使用儀器前將電源線、測試架聯接線、主機與數據處理器的聯接線（如使用處理器）聯接好，並注意一下測試架上是否已接好探針頭。電源線插頭插入～220V座插後，開啟背板上的電源開關，此時前面板上的數字表、發光二極體都會亮起來。探針頭壓在被測單晶上，打開恆流源開關，左邊的表顯示從1、4探針流入單晶的測量電流，右邊的表顯示電阻率（測單晶錠時）或2、3探針間的電位差。電流大小通過旋轉前面板左下方的兩個電位器旋鈕加以調節，其它正、反向測量、ρ/R選擇、自動/手動測量都通過前面板上可自鎖的按鈕開關控制。
（3）儀器測量電流分五檔：0.01mA（10μA）、0.1mA（100μA）、1mA、10mA、100mA，讀數方法如下：
在0.01mA檔顯示5位數時：10000 表示電流為：0.01mA（10μA）
又如在0.01mA檔顯示：06282 即表示電流為：6.28μA
在0.1mA檔顯示5位數時：10000 表示電流為：0.1mA（100μA）
又如在0.1mA檔顯示：04532 表示電流為：45.32μA
在1mA檔顯示5位數時：10000 表示電流為：1mA
又如在1mA檔顯示：06282 表示電流為：0.6282mA
同樣在10mA檔顯示：10000 表示電流為：10mA
顯示：04532 表示電流為：4.532mA
100mA檔顯示：10000 表示電流為：100mA
顯示：06282 表示電流為：62.82mA
電流檔的選擇採用循環步進式的選擇方式，在儀器面板上有一個電流選擇按鈕，每按一次進一檔，儀器通電後自動設定在常用的1.0mA檔，如果你不斷地按下「電流選擇」按鈕，電流檔位按下列順序不斷地循環。
1.0mA→10mA→100mA→0.01mA→0.1mA→1.0mA→10mA→……
可以快速找到你所需的檔位。
（4）電壓表讀數：因為為了方便直接用電壓表讀電阻率，所以我們人為改動了電壓表的小數點移位，如需要直接讀取電壓值時需注意，本電壓表為199.99mV的數值電壓表，讀電壓值時小數點是固定位置的，
例如：電壓表顯示 讀電壓值
1.9999 199.99mV
19.999 199.99mV
199.99 199.99mV
1999.9 199.99mV
19999 199.99mV
根據國標GB/T1552-1995，不同電阻率硅試樣所需要的電流值如下表所示：
電阻率，Ω.cm 電流,mA 推薦的園片測量電流值
<0.03 ≤100 100
0.03～0.30 <100 25
0.3～3 ≤10 2.5
3～30 ≤1 0.25
30～300 ≤0.1 0.025
300～3000 ≤0.01 0.0025
根據ASTM F374-84標准方法測量方塊電阻所需要的電流值如下表所示：
方塊電阻Ω 電流,mA
2.0～25 10
20～250 1
200～2500 0.1
2000～25000 0.01
（5）恆流源開關是在發現探針帶電壓接觸被測材料影響測量數據（或材料性能）時，再使用，即先讓探針頭壓觸在被測材料上，後開恆流源開關，避免接觸時瞬間打火。為了提高工作效率，如探針帶電壓接觸被測材料對測量並無影響時，恆流源開關可一直處於開的狀態。
（6）正、反向測量開關只有在手動狀態下才能工作人工控制，在自動狀態下由數據處理器控制，因此在手動正反向開關不起作用時，先檢查手動/自動開關是否處於手動狀態。相反在使用數據處理器測量材料電阻率時，儀器必須處於自動狀態，否則數據處理拒絕工作。
（7）在使用數據處理器自動計算及記錄時，必須嚴格按照使用說明操作，特別注意輸入數據的位數。有關數據處理器的使用方法請仔細閱讀KDY測量系統的操作說明。
4、主機技術能數
（1）測量范圍：
可測電阻率：0.0001～19000Ω•cm
可測方塊電阻：0.001～190000Ω•□
（2）恆流源：
輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續可調
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恆流精度：各檔均低於±0.05%
（3）直流數字電壓表：
測量范圍：0～199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）
輸入阻抗：≥1000MΩ
（4）供電電源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
（5）使用環境：
溫度：23±2℃ 相對濕度：≤65%
無較強的電場干擾，電源隔離濾波，無強光直接照射
（6）重量、體積：
主機重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm 長度×寬度×高度）
附錄1.1
溫度修正系數表 ρT = FT *ρ23
標稱電阻率
Ω.cm
溫度 FT
ºC 0.005 0.01 0.1 1 5 10
10
0.9768 0.9969 0.9550 0.9097 0.9010 0.9010
12 0.9803 0.9970 0.9617 0.9232 0.9157 0.9140
14 0.9838 0.9972 0.9680 0.9370 0.9302 0.9290
16 0.9873 0.9975 0.9747 0.9502 0.9450 0.9440
18 0.9908 0.9984 0.9815 0.9635 0.9600 0.9596
20 0.9943 0.9986 0.9890 0.9785 0.9760 0.9758
22 0.9982 0.9999 0.9962 0.9927 0.9920 0.9920
23 1.0000 1.0000 1.0000 1.0000 1.0000 1.0000
24 1.0016 1.0003 1.0037 1.0075 1.0080 1.0080
26 1.0045 1.0009 1.0107 1.0222 1.0240 1.0248
28 1.0086 1.0016 1.0187 1.0365 1.0400 1.0410
30 1.0121 1.0028 1.0252 1.0524 1.0570 1.0606
注 ：① 溫度修正系數表的數據來源於中國計量科學研究院。
附錄1.2
溫度修正系數表(續1) ρT = FT *ρ23
標稱電阻率
Ω.cm
溫度 FT
ºC 25
(17.5—49.9) 75
(50.0—127.49) 180
(127.5—214.9) 250/500/1000
( ≥ 215 )
10 0.9020 0.9012 0.9006 0.8921
12 0.9138 0.9138 0.9140 0.9087
14 0.9275 0.9275 0.9278 0.9253
16 0.9422 0.9425 0.9428 0.9419
18 0.9582 0.9580 0.9582 0.9585
20 0.9748 0.9750 0.9750 0.9751
22 0.9915 0.9920 0.9922 0.9919
23 1.0000 1.0000 1.0000 1.0000
24 1.0078 1.0080 1.0082 1.0083
26 1.0248 1.0251 1.0252 1.0249
28 1.0440 1.0428 1.0414 1.0415
30 1.0600 1.0610 1.0612 1.0581
附錄2.
厚度修正系數F(W/S)為圓片厚度W與探針間距S之比的函數
W/S F(W/S) W/S F(W/S) W/S F(W/S) W/S F(W/S)
0.40 0.9993
0.41 0.9992
0.42 0.9990
0.43 0.9989
0.44 0.9987
0.45 0.9986
0.46 0.9984
0.47 0.9981
0.48 0.9978
0.49 0.9976
0.50 0.9975
0.51 0.9971
0.52 0.9967
0.53 0.9962
0.54 0.9958
0.55 0.9953
0.56 0.9947
0.57 0.9941
0.58 0.9934
0.59 0.9927 0.60 0.9920
0.61 0.9912
0.62 0.9903
0.63 0.9894
0.64 0.9885
0.65 0.9875
0.66 0.9865
0.67 0.9853
0.68 0.9842
0.69 0.9830
0.70 0.9818
0.71 0.9804
0.72 0.9791
0.73 0.9777
0.74 0.9762
0.75 0.9747
0.76 0.9731
0.77 0.9715
0.78 0.9699
0.79 0.9681 0.80 0.9664
0.81 0.9645
0.82 0.9627
0.83 0.9608
0.84 0.9588
0.85 0.9566
0.86 0.9547
0.87 0.9526
0.88 0.9505
0.89 0.9483
0.90 0.9460
0.91 0.9438
0.92 0.9414
0.93 0.9391
0.94 0.9367
0.95 0.9343
0.96 0.9318
0.97 0.9293
0.98 0.9263
0.99 0.9242 1.0 0.921
1.2 0.864
1.4 0.803
1.6 0.742
1.8 0.685
2.0 0.634
2.2 0.587
2.4 0.546
2.6 0.510
2.8 0.477
3.0 0.448
3.2 0.422
3.4 0.399
3.6 0.378
3.8 0.359
4.0 0.342
註：①厚度修正系數表的數據來源於國標 GB/T1552-1995
《硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法》
附錄3.
修正系數F2為探針間距S與圓片直徑D之比的函數
S/D F(S/D) S/D F(S/D) S/D F(S/D)
0 4.532
0.005 4.531
0.010 4.528
0.015 4.524
0.020 4.517
0.025 4.508
0.030 4.497 0.035 4.485
0.040 4.470
0.045 4.454
0.050 4.436
0.055 4.417
0.060 4.395
0.065 4.372 0.070 4.348
0.075 4.322
0.080 4.294
0.085 4.265
0.090 4.235
0.095 4.204
0.100 4.171
註：①厚度修正系數表的數據來源於國標 GB/T1552-1995
《硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法》
H. 怎麼測量電氣系統電纜電阻及接觸電阻
一、電纜絕緣電阻測量方法
測量電力電纜的主絕緣電阻可以檢查電纜絕緣是否老化、受潮，以及耐壓試驗中暴露出來的絕緣缺陷。
對1000V以下的電纜測量時用1000V絕緣電阻測試儀，對1000V及以上的電纜用2500V絕緣電阻測試儀，對6kV及以上電纜用5000V絕緣電阻測試儀。
像塑絕緣電力電纜的絕緣電阻很低時，應用萬用表正、反接線分別測屏蔽層對鎧裝、鎧裝層對地的直流電阻，以檢查它們是否受潮。當絕緣確實受潮時，應安排檢修。
當電纜埋於地下後，測量鋼鎧甲對地的絕緣電阻，可檢查出外護套有無損傷；同理，測量銅屏蔽層對鋼鎧甲間的絕緣電阻也可以檢查出內護套有無損傷。通過這兩項測量可以判斷絕緣是否已經受潮。當電纜敷設在電纜溝、隧道支架上時，其外護套的損傷點不在支點處且又未浸泡在水中或置於特別潮濕的環境中，則外護套的操作很難通過測量絕緣電阻來發現，此時測量銅屏蔽層對鋼鎧甲的絕緣電阻則更為重要。
電纜終端或套管表面臟污、潮濕對絕緣電阻有較大的影響。除擦拭乾凈外，還應加屏蔽環，將屏蔽環接到絕緣電阻測試儀的「屏蔽」端子上，當電纜為三芯電纜時，可利用非測量相作為兩端屏蔽環的連線，見圖1-1。
圖1-1
測量絕緣電阻時的屏蔽接線
(a)單芯電纜；(b)三芯電纜
當被測電纜較長時，充電電流很大，因而絕緣電阻測試儀開始指示的數值很小，這並不表示絕緣不良，必須經過較長時間遙測才能得到正確的結果。
測量中若採用手動絕緣電阻測試儀，則轉速不得低於額定轉速的80%，且當絕緣電阻測試儀達到額定轉速後才能接到被試設備上並記錄時間，讀取15s和60s的絕緣電阻值。絕緣電阻測試儀停止搖動時，更應進行充分放電，放電時間最少不少於2min。
二、開關接觸電阻測量方法
由於接觸電阻非常小,普通的三用表肯定不行.
一般用到專用的迴路電阻測試儀測試，如下圖：
原來也用QJ44型直流電橋測直流接觸電阻。
通過測試數據，主要用來分析被測迴路的接觸情況、連接性能，導電能力等。
I. 什麼是接觸電阻
對導體間呈現的電阻稱為接觸電阻。
一般要求接觸電阻在10-20 mohm以下。 有的開關則要求在100-500uohm以下。有些電路對接觸電阻的變化很敏感。 應該指出， 開關的接觸電阻是開關在若干次的接觸中的所允許的接觸電阻的最大值。
在電路板上是專指金手指與連接器之接觸點，當電流通過時所呈現的電阻之謂。為了減少金屬表面氧化物的生成，通常陽性的金手指部份，及連接器的陰性卡夾子皆需鍍以金屬，以抑抵其「接載電阻」的發生。其他電器品的插頭擠入插座中，或導針與其接座間也都有接觸電阻存在。
(9)gbt150782008貴金屬電觸點材料接觸電阻的測量方法擴展閱讀：
影響因素：
1) 接觸件材料
電連接器技術條件對不同材質製作的同規格插配接觸件，規定了不同的接觸電阻考核指標。如小圓形快速分離耐環境電連接器總規范GJB101-86規定，直徑為1mm的插配接觸件接觸電阻，銅合金≤5mΩ,鐵合金≤15mΩ。
2) 正壓力
接觸件的正壓力是指彼此接觸的表面產生並垂直於接觸表面的力。隨正壓力增加，接觸微點數量及面積也逐漸增加，同時接觸微點從彈性變形過渡到塑性變形。由於集中電阻逐漸減小，而使接觸電阻降低。接觸正壓力主要取決於接觸件的幾何形狀和材料性能。
3) 表面狀態
接觸件表面一是由於塵埃、松香、油污等在接點表面機械附著沉積形成的較鬆散的表膜，這層表膜由於帶有微粒物質極易嵌藏在接觸表面的微觀凹坑處，使接觸面積縮小，接觸電阻增大，且極不穩定。
二是由於物理吸附及化學吸附所形成的污染膜，對金屬表面主要是化學吸附，它是在物理吸附後伴隨電子遷移而產生的。故對一些高可靠性要求的產品，如航天用電連接器必須要有潔凈的裝配生產環境條件，完善的清洗工藝及必要的結構密封措施，使用單位必須要有良好的貯存和使用操作環境條件。
4) 使用電壓
使用電壓達到一定閾值，會使接觸件膜層被擊穿，而使接觸電阻迅速下降。但由於熱效應加速了膜層附近區域的化學反應，對膜層有一定的修復作用。
於是阻值呈現非線性。在閾值電壓附近，電壓降的微小波動會引起電流可能二十倍或幾十倍范圍內變化。使接觸電阻發生很大變化，不了解這種非線性變化，就會在測試和使用接觸件時產生錯誤。
5) 電流
當電流超過一定值時，接觸件界面微小點處通電後產生的焦耳熱作用而使金屬軟化或熔化，會對集中電阻產生影響，隨之降低接觸電阻。
J. 非接觸電阻儀EC-80P與四點探針區別
EC-80P非接觸式電阻測量儀是向被測材料發射電磁波，然後檢測材料中產生的電渦流大小來檢測電阻率的（材料電阻率不同，產生的渦流強度也不同）。測量時探頭不要求緊密接觸材料。
4探針電阻率測量儀，則是用精密的恆定電流通過探針注入材料，然後檢測電流經過的途徑上兩點之間的微電壓，經計算後得到材料電阻率。測量時要求4根探針必須與材料實現緊密良好的歐姆連接。
目前看，4探針接觸式電阻測試儀的測量精度遠大於非接觸式，在精度要求比較高的測試場合應以4探針為准。在測試量較大且要求快速的場合，可以使用非接觸式測量儀。